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          X熒光光譜儀具有哪些優點呢?
        1. 發布日期:2022-11-29     信息來源:      瀏覽次數:788
          • X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。
             
            X射線熒光光譜儀的核心結構為激發源和探測器,其中,激發源是激發元素產生特征X射線的構件,有帶電粒子激發、電磁輻射激發、內轉換現象和核衰變等方式,而常用的激發源是電磁輻射激發,探測器是將X射線熒光的能量和強度轉化成一定形狀和數量的電脈沖,實質上就是一個能量→電量的傳感器,常用的探測器有正比計數器、閃爍計數器和半導體計數器。
             
            優點有哪些?
             
            1)分析時間短。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
             
            2)適用范圍廣。X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
             
            3)非破壞分析,重現性好。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
             
            4)X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
             
            5)分析精密度高。
             
            6)制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

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